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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology - cover

LIBRO INGLESE

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology

Name: Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics: 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology
Price: 191.96 EUR
Availability: InStock
ISBN: 0735404410

David G. Seiler (Curatore)

Alain C. Diebold (Curatore)

American Institute of Physics, 2007

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Descrizione

This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry's characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.

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Dettagli

Curatore:

David G. Seiler, Alain C. Diebold

Editore:

American Institute of Physics

Collana:

AIP Conference Proceedings / Materials Physics and Applications

Anno:

2007

Rilegatura:

Mixed media product

Pagine:

592 p.

Testo in English

Dimensioni:

279 x 216 mm

EAN:

9780735404410

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