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Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems - Santanu Chattopadhyay - cover

LIBRO INGLESE

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

Name: Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems
Price: 57.82 EUR
Availability: InStock
Author: Santanu Chattopadhyay
ISBN: 0815378823

di Santanu Chattopadhyay (Autore)

Taylor & Francis Inc, 2018

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Descrizione

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level Describes range of algorithms for addressing thermal-aware test issue, presents comparison of temperature reduction with power-aware techniques and include results on benchmark circuits and systems for different techniques This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips

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Dettagli

Autore:

Santanu Chattopadhyay

Editore:

Taylor & Francis Inc

Anno:

2018

Rilegatura:

Hardback

Pagine:

118 p.

Testo in English

Dimensioni:

216 x 140 mm

Peso:

295 gr.

EAN:

9780815378822

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